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專用儀器儀表
DP-8四探針測試儀 四探針檢測儀 四探針測定儀/四探針電阻率測定儀

四探針測試儀 四探針檢測儀 四探針測定儀/四探針電阻率測定儀
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類四探針測試儀 四探針檢測儀 四探針測定儀/四探針電阻率測定儀 型號(hào):DP-8
DP-8型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的,于測試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等分組成,測量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測試采集測試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測試結(jié)果。
儀器采用了電子行、裝配。具有能選擇直觀、測量取數(shù)快、度、測量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
術(shù) 標(biāo) :
測量范圍 電阻率:10-4~105 Ω.cm(可擴(kuò)展);
方塊電阻:10-3~106 Ω/□(可擴(kuò)展);
電導(dǎo)率:10-5~104 s/cm;
電阻:10-4~105 Ω;
可測晶片直徑 140mmX150mm(配S-2A型測試臺(tái));
200mmX200mm(配S-2B型測試臺(tái));
400mmX500mm(配S-2C型測試臺(tái));
恒流源 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表 量程及表示形式:000.00~199.99mV;
分辨力:10μV;
輸入阻抗:>1000MΩ;
度:±0.1% ;
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性、量程自動(dòng)顯示;
四探針探頭基本標(biāo) 間距:1±0.01mm;
針間緣電阻:≥1000MΩ;
機(jī)械游移率:≤0.3%;
探針:碳化鎢或速鋼Ф0.5mm;
探針壓力:5~16 牛頓(總力);
四探針探頭應(yīng)用參數(shù) (見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87行) 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
整機(jī)測量zui大相對誤差 (用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5%
整機(jī)測量標(biāo)準(zhǔn)不確定度 ≤5%
計(jì)算機(jī)通訊接口 并口
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境 溫度:23±2℃;
相對濕度:≤65%;
無頻干擾;
無強(qiáng)光直射;
配置 四探針測試儀主機(jī)、探針臺(tái)、四探針探頭、
2.
遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀 型號(hào):DP-2388
遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀 說明:
遮蓋率測定儀是我公司在DP-Ⅲ反射率測定儀的基礎(chǔ) 上新開發(fā)的微機(jī)型產(chǎn)品,其參數(shù)附合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88和標(biāo)準(zhǔn)ISO3906-1980(E)。本儀器采用中文菜單,顯示清晰、操作方便,它具有數(shù)據(jù)測量、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存、數(shù)據(jù)處理和數(shù)據(jù)查詢等能。遮蓋率測定儀適用于測定白色漆和淺色漆的遮蓋率, 也可以測定色漆和清漆在固定涂布率下的反射率
遮蓋率測定儀/遮蓋率檢測儀/遮蓋率測試儀 特點(diǎn):
1、測量范圍: 0―100
2、分度值: 0.1
3、示值誤差: ±1
4、重復(fù)度: 0.3
5、環(huán)境溫度: 200C±50C 相對濕度 < 85%
6、作電源: 220V±10% 50Hz
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北京亞歐德鵬科有限公司